2026 北科大廠務與潔淨室技術研討會:掌握微污染前沿趨勢

專欄導讀:2026 年 7 月 31 日,由國立臺北科技大學潔淨技術中心、北科大半導體廠務及設備研究中心、中興大學先進半導體潔淨技術與製程設備研發中心、中華潔淨技術協會及台灣冷凍空調學會等單位共同主辦的「2026年廠務與潔淨室技術暨學術研討會」,於北科大先鋒大樓盛大登場。本屆研討會匯聚了半導體大廠、學術研究機構與廠務設備專家,產學研團隊針對微污染控制 (AMC)、低能耗排氣、CO2 綠色應用及數據中心冷卻等前瞻議題進行深度對話。

一、 產學研頂尖專家雲集:2026 潔淨室技術研討會亮點剖析

本屆研討會為高科技廠房設施與潔淨技術領域的年度盛事。議程涵蓋了超臨界流體於濾網再生的實務應用、新穎分析儀器於半導體 AMC 之監測、cavity ring-down 光譜即時監測,以及離子液體尾氣處理與 AI 驅動的永續過濾解決方案。活動現場聚集了數百位產學界專業人士,透過專題報告與技術分場論壇進行交流。研討會呈現出半導體與生技產業對「極限微污染控管」與「ESG 綠色廠務」的迫切需求。現場討論熱烈,為下半年的高科技廠房建置與升級指引了明確方向。

2026年國立臺北科技大學廠務與潔淨室技術暨學術研討會現場
2026 年北科大潔淨室技術研討會盛大舉行,產學研專家聚焦先進廠房設施與微污染控制技術。

二、 關鍵專題發表:酸類 AMC 控制的選擇性過濾策略

在上午的專題演講中,來自 Artemis control GmbH 的 Dr. Peter Heinrich 針對「酸類 AMC 移除:活性碳系統與離子交換系統之優勢發揮」發表了專題報告。演講重點指出,多數與酸類相關的晶圓缺陷取決於特定製程步驟,極少與「總酸量」數值直接相關。離子交換樹脂 (IX-A) 具備均勻的官能基與惰性骨架,體積容量達到傳統活性碳 (AC-A) 的四倍。IX-A 能精準移除 HF、HCl 等強酸,且不具備吸附孔洞,因此不會產生酯類吸附或 NOx 氧化還原等副作用。這項研究證實,採用具備高選擇性的離子交換系統,能在 FFU 及光罩倉儲中實現極低的總擁有成本 (TCO) 與超過 60 個月的超長效防護。

📊 2026 潔淨室技術研討會核心探討範疇

研討會核心主題 產業前沿技術發展點 廠務與產線落地實踐效益
先進微污染控制 (AMC) 離子交換樹脂濾網 (IX-A)、光譜即時監測技術 精準消除晶圓與光罩之酸類腐蝕風險,延長設備壽命
綠色廠務與低碳排氣 超臨界 CO2 濾網再生、超重力除塵與水固廢循環 降低廠房運轉耗能,協助企業達成 ESG 永續減碳目標
潔淨室實體人員防護 長效抗靜電布料編織、低發塵潔淨衣與零殘留擦拭布 封鎖現場人員走動發散之皮屑微粒,確保量產良率穩定

三、 持續精進專業量能:CYK 團隊第一線汲取前沿新知

微污染控制不僅需要頂尖的氣體過濾設備,更需要物理防護耗材的精準配合。CYK 喬鎧興業團隊定期參與國內外各類無塵與潔淨技術研討會。同仁藉由吸收最新的學術發表與技術數據,持續優化自身的專業技術知識庫。在本次研討會現場,CYK 團隊與多家設備商、系統整合商及學術機構代表進行了深度的業務與技術交流。團隊透過傾聽廠務端在機台保養與人員進出時遇到的防護痛點,不斷調整產品規格,確保 CYK 提供之解決方案始終緊跟半導體與生技產業的最前線發展。

CYK 喬鎧興業團隊參與 2026 潔淨室技術研討會,與業界專家及廠商交流
CYK 團隊定期參與高階廠務與潔淨技術研討會,與同業交流先進防護觀念並精進服務量能。

四、 賦能產學研究與商業量產:CYK 喬鎧興業潔淨防護方案

從大學實驗室的產學合作專案,一路延伸至大批量商業化生產線,極致的環境潔淨度是研發成果能否落地的核心關鍵。CYK 喬鎧興業長期致力於支援各大大專院校產學中心與高科技廠房,提供通過第三方權威認證的潔淨產品。

CYK 高規格潔淨衣具備絕佳的物理阻隔性與極低發塵數據,能承受頻繁的洗滌與滅菌流程,協助研究團隊與產線工程師阻絕人為落塵與靜電干擾。針對光罩倉儲、設備維護與嚴格的無痕擦拭需求,CYK 提供高品質超細纖維潔淨擦拭布,具備零發塵、強吸液性與耐溶劑特性。CYK 憑藉千坪實體倉儲系統,確保產學機構與企業獲得穩定的現貨供應,共同打造堅不可摧的潔淨防線。

目前CYK 喬鎧興業積極尋找合作之各大專院校,願意提供免費的教學耗材,請填寫表單將會有專人跟您聯絡。

關於潔淨室技術研討會與廠務防護的常見問題 (FAQ)

Q1: 參與 2026 北科大潔淨室技術研討會帶給廠務端何種效益?

研討會展現了微污染控制 (AMC) 與綠色廠務的最新技術指標。廠務主管能藉此了解離子交換過濾、廢氣處理與節能冷卻等前沿方案,優化廠房運轉效率與 TCO。

Q2: CYK 喬鎧興業能為產學合作專案提供哪些具體支援?

CYK 為學術機構與研發實驗室提供彈性且規格齊全的潔淨產品。包含通過發塵測試的潔淨衣與高品質超細纖維擦拭布,確保研發過程不受環境微粒干擾,提升實驗數據精準度。

Q3: 為什麼氣態 AMC 濾網技術升級時,人員實體防護耗材也需要同步提升?

潔淨室微污染控制包含氣態分子 (AMC) 與固態顆粒 (Particulate)。即便提升濾網效率,現場人員走動釋放的皮屑與劣質擦拭布掉落的纖維仍會破壞環境。物理防護耗材必須同步升級以達到全面潔淨。

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